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IC 전자공학적 성분 내부 품질과 위조인 점검을 위한 AX7900 자동이 엑스레이 매핑 검역

BGA 엑스레이 검사 기계
2025-04-09
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IC 전자공학적 성분 내부 품질과 위조인 점검을 위한 AX7900 자동이 엑스레이 매핑 검역 기술 : 90KV 5μm X 선관, FPD 검출기. ±60' 경사 움직임 (옵션)과 다중 기능 워크스테이션, XY 다중 축 동작표준. / 감소 확대 / FOV를 증가시키기 위한 X 선관과 FPD를 향한 Z 축 움직임. 편리한 작용점 위치 파악 시스템. XY가 복상 ... 더 보기
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IC 전자공학적 성분  내부 품질과 위조인 점검을 위한 AX7900 자동이 엑스레이 매핑 검역
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